Zhu Y., Li Q.(qiangli@bnl.gov), Ye Z.-X., Hu Y., Si W.D., Johnson P.D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, surface, nanoscaled roughness, pinning, critical current density, temperature dependence, PLD process, substrate single crystal, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Applied Physics Letters, 2005, v.87, N 12, p.122502
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.